詳細(xì)信息
.HP-OW光學(xué)測(cè)頭：應(yīng)用白光共聚焦技術(shù)，可針對(duì)各種表面工件進(jìn)行高精度的非接觸測(cè)量。
HP-OW測(cè)量范圍為幾毫米，同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)的分辨率。±30°的大測(cè)量角度，使其適用于更多應(yīng)用，從微小特征到大面積測(cè)量。通過(guò)應(yīng)用HR-R自動(dòng)更換架，可實(shí)現(xiàn)與其它不同測(cè)頭的自動(dòng)更換。
HP-OW測(cè)頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型號(hào)，可根據(jù)測(cè)量應(yīng)用選擇不同的測(cè)量范圍、工作距離等。